华为公司申请芯片和芯片测试装置专利,可以提高对芯片中各逻辑单元进行测试的测试效率

华为公司申请芯片和芯片测试装置专利,可以提高对芯片中各逻辑单元进行测试的测试效率金融界 2024 年 1 月 12 日消息 据国家知识产权局公告 华为技术有限公司申请一项名为 芯片和芯片测试装置 公开号 CNA 申请日期为 2021 年 6 月

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金融界2024年1月12日消息,据国家知识产权局公告,华为技术有限公司申请一项名为“芯片和芯片测试装置“,公开号CNA,申请日期为2021年6月。

专利摘要显示,一种芯片和芯片测试装置,该芯片(100)包括输入端口(In)、输出端口(Out)、串行解串行器(1)和扫描测试链;串行解串行器(1)包括接收电路(RX)和发射电路(TX),接收电路(RX)与输入端口(In)和扫描测试链的输入端连接,发射电路(TX)与输出端口(Out)和扫描测试链的输出端连接;接收电路(RX)包括边界扫描电路(11)和第一多路选择器(13),第一多路选择器(13)的第一输入端与输入端口(In)连接,第一多路选择器(13)的第二输入端通过边界扫描电路(11)与输入端口(In)连接;第一多路选择器(13),用于将第一测试信号通过第一多路选择器(13)的第一输入端传输至扫描测试链,第一测试信号是输入端口从测试设备接收的,可以提高对芯片中各逻辑单元进行测试的测试效率。

本文源自金融界

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