电子行业:AI半导体技术的新结构、新工艺、新材料

电子行业:AI半导体技术的新结构、新工艺、新材料报告出品方:东兴证券以下为报告原文节选1. 半导体行业现状:晶圆厂建设成本加大,AI 开支明显提升在人工智能和汽车电动化、智能化的产

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报告出品方:东兴证券

以下为报告原文节选

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1. 半导体行业现状:晶圆厂建设成本加大,AI 开支明显提升

在人工智能和汽车电动化、智能化的产业趋势下,半导体增长的逻辑仍在强化,2030 年半导体市场规模有望突破 1 万亿美元。

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随着工艺节点的突破,半导体研发投入和晶圆厂建设成本大幅提升,预计 5nm 晶圆厂建设成本高达 54 亿美元。半导体公司由于资本开支巨大,形成了较强的技术壁垒和资金壁垒,它们通过不断地缩短产品的生命周期,并不断地通过技术创新来保持产品竞争力。随着工艺节点的突破,半导体设计和研发投入对应的资本开支大幅提升,例如 65nm 工艺研发设计成本约为 2800 万美元,而 5nm 工艺相关的设计和研发成本为 5.4 亿美元;与此同时,65nm 到 5nm 晶圆厂建设成本也从 4 亿美元提升至 54 亿美元。

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晶体管微缩、3D 堆叠等技术创新使得 CMOS 先进工艺方面的投资加大,2024-2027 年半导体制造设备市场有望保持持续增长。

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半导体公司 AI/ML(人工智能/机器学习)有关的 EBIT 快速增长,预计 4 年以后有望增加至每年 850-950亿美元。半导体公司每年 AI/ML 贡献的 EBIT 目前来看为 50-80 亿美元,在未来 2-3 年将会产生 350-400 亿美元。而 4 年以后有望增加至每年 850-950 亿美元。

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AI 在整个半导体产业链中,对于制造的 EBIT 影响最大,约为 380 亿美元,未来芯片研发和设计成本有望降低。制造业将在 AI/ML 中明显受益,特别是考虑到了资本开支、运营支出和材料成本。AI 对于半导体制造产生的贡献最大,约为 380 亿美元。同时受益于芯片设计和验证自动化,芯片研发和设计成本也相应降低。

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随着 GPU、ASIC、通讯设备和高带宽 DRAM 用量增加,下游工业、消费电子和计算领域对应的 AI 半导体销售额快速增长。

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在数据中心侧和边缘侧,不同类型芯片的占比不同。在数据中心侧,推理和训练芯片 ASIC 芯片占比大幅提升;而在边缘侧推理芯片 GPU 大幅提升,训练芯片 FPGA 占比大幅提升。

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2. AI 半导体:新结构、新材料和新工艺

随着 AI 半导体晶体管数量增加,通过引入 MPU(微处理器)、增大芯片面积,算力将会大幅提升。我们接下来对于 AI 半导体的新结构、新工艺和新材料等产业趋势进行前瞻性分析。

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2.1 新结构:晶体管微缩、存储器件堆叠,使用 MIMCAP 结构

随着 AI 半导体技术发展,半导体器件结构更加复杂,由 FinFET 到 GAA,再到 CFET 转变。1999 年,胡正明教授正式发明 FinFET(鳍式场效应晶体管),相比平面 FET 的平面设计,FinFET 为 3D 立体结构,消除了平面 FET 的短沟道效应。但当工艺节点达到 5 nm 之后,FinFET 结构无法提供足够的静电控制。
GAAFET(Gate-All-Around FET)把栅极和漏极从鳍片变成了纳米线,栅极对电流的控制力进一步提升。据IMEC 数据,GAA 预计将于 2024 完成,采用 2nm 节点取代 FinFET 技术。而 CFET 采用多层纳米片替代GAA 中的纳米线,更大宽度的片状结构增加了接触面,器件结构继续微缩。

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GAAFET的器件结构中,沟道外延层、源极/漏极外延层出现了多层结构,高性能/高带宽的DRAM使用High-k材料和金属材料,而这些材料和工艺都需要更多的 ALD 和 PVD 外延工艺。

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ALD 设备行业是薄膜沉积市场中增速最快的细分板块,随着器件复杂性增加、引入 3D 结构,新材料的种类与用量均有所增加。

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另外,在存储端,随着生成式 AI 的发展,大容量数据高速运转,DRAM 芯片使用 HBM(High Bandwidth Memory)结构来降低互联的延迟。DRAM 从平面结构转换为 HBM 结构,可以大幅降低互联长度、采用 TSV互联的方式提高数据传输速度、降低散热和耗电量、增加 TSV 结构中的硅面积。

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通过将外接电路和存储阵列晶圆键合在一起,3D NAND 芯片将具备更高的存储密度和更快的数据传输速度,3D NAND 的性能明显提升。

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随着 AI 半导体的发展,未来将更多采用 3D 堆叠和低温/复杂器件结构,NAND flash 增加至 500 层以上,DRAM 由 2D 向 3D 结构转变,更多采用低温工艺/复杂器件结构。

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AI 半导体增加了 MIMCAP 结构(Hf 基 ALD 介质层),其中 MIM 为单元电容器。AI 半导体将 MIMCAP 放在金属堆栈的上层来增加存储,而 Graphcore 在 N7 上将一些 MIM 电容器从金属堆栈的上层迁移到单独的芯片中,从而使它们更大并且更不易受到干扰,这种技术使性能提高 30%。

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2.2 新工艺:FEOL 采用 HKMG 工艺,BEOL 采用背面供电工艺

逻辑器件制造可分为前道(FEOL)、中道(MOL)和后道(BEOL)工艺。FEOL 主要是在 Si 衬底上划分晶体管的有效区域(active area),离子注入实现 N 型和 P 型区域,其次是栅极生长,最后完成源极和漏极的制备;而 BEOL 主要是金属互连工艺,通常采用大马士革工艺。

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栅极生长是晶圆制造的关键工艺,SiON/Poly栅极集成解决方案存在一定局限性,随着 SiON 厚度不断降低,这会导致更多功率损耗,HKMG 方案能较好地解决这些问题。栅极由绝缘膜(栅氧化层, gate oxide)和电极(栅电极, gate electrode)组成,栅氧化层由 SiON 氧化物绝缘体和聚硅基电极组成。随着晶体管的微缩,源极和漏极之间的距离越来越近,电流移动速度加快,施加在栅极上的电压降低。为了在较低电压下提高性能,必须减小栅氧化材料(SiON)的厚度。但随着 SiON 厚度不断减小,栅氧化层的可靠性也会降低,从而导致了更多功率损耗,这也限制了厚度的进一步减小。
这使得高 k/金属栅极(HKMG)的集成解决方案应运而生,该解决方案将高介电常数栅氧化层与金属电极相结合,较好解决了以上功率损耗的问题。通常情况下,基于 Hf 的栅氧化层用于高温半导体制造工艺,因为它们可以确保自身和硅的热稳定性。为了防止现有多晶硅电极材料与高 k 栅氧化层之间的相互作用,必须引入金属电极来代替多晶硅。

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HKMG 可以实现晶体管栅氧化层厚度减少,并通过提高晶体管速度和 Vdd 微缩来降低功耗。针对 HKMG 优化的设计方案,可以有效控制泄漏电流,较之 poly/SiON,SK hynix 产品速度提高 33%,功耗降低 25%。

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另外,背面供电工艺将电源线移动到芯片“背面”的方法,使芯片“正面”专注于互连,英特尔背面供电方案 IR 降低了 30%,每个核心单元的性能提高了 6%。随着芯片性能要求越来越高,晶体管越来越小,所需提供电流的互连越来越紧密,线路和过孔的进一步拓展也将导致更高的电阻和布线拥塞。英特尔“背面供电”方案将电源线移动到芯片“背面”,从而使芯片“正面”专注于互连。当能量流过电线时,电阻会随着电线变得越来越小而增加。英特尔 PowerVia 方案 IR 降低了 30%,而每个核心单元的电能利用率提高了 6%。

2.3 新材料:硅材料、Hf、钼金属和 High-k 材料用量增加,封装基板使用量增大

高性能/高带宽的 DRAM 需要使用 High-k 材料和金属材料,这些材料和工艺都需要更多的单片 ALD 和外延工艺。高介电常数前驱体(High-k)主要用于 45nm 及以下半导体制造工艺流程,应用于存储、逻辑芯片的CVD 和 ALD 沉积成膜技术,形成集成电路中的电容介质或栅极电介质,解决器件微缩及漏电问题,可减少漏电至传统工艺的 10 倍左右,大幅提升良率。
DRAM 线宽越细,High-k 材料用的越多。未来随着半导体技术的发展,对 High-K 材料的需求将攀升。随着制程微缩,电容的深宽比倍数增加,需要单位价值量更高的 High-k 材料降低高深宽比刻蚀产生的各种缺陷。

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另外为了获得更高的性能,小芯片使用量将增多,相应硅片的使用量增大,随着芯片高密度互联,硅面积将增加一倍多。

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